HT-E8-SPRX射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪ROSH检测仪 HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF），光路系统、散热系统、控制系统以及软件算法，使HeLeeX E8-SPR在测试精密度、准确度和操作便捷性上超越国内外同类产品，其的性能被广泛的应用于RoHS/HF检测、重金属检测、合金成分分析、贵金属检测、镀层测试、土壤成分分析、矿石成分分析等领域，并得到第三方检测机构、上市企业以及其他中小型企业用户的。

一、应用领域：

测试性能：

X射线荧光光谱仪ROSH检测仪 Ø RoHS /ELV无卤指令（Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl），检测范围：2ppm-99.99%（卤素检测范围：30ppm-90%）测试精度：测试标准样品EC681M中的铅（69.7ppm）7次绝对标准偏差小于1.5。;

Ø 镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等检测范 围：0.001um-30um，：检测最外层镀层厚度为1um左右的镀层7次相对标准偏差小于5%；

Ø 合金分析：钢铁、铜类等成分分析，检测元素范围：Na-U，检测浓度范围：50ppm-99.99%。7次测试重复性：相对标准偏差小于0.1%（含量5%左右）

二、仪器特点：

仪器外围配置

Ø HeLeeX E8-SPR采用模块化分体式X射线准直器技术，根据用户需求，可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm中的任意四种准直器。满足样品中不同大小点测试需求。

1、 仪器特