涂层测厚仪FMP30

测厚仪简介：

    精度1微米涂层测厚仪FMP30可以选用磁性探头与非磁性探头，也就是电磁感应原理与涡流感应原理，高精度测试仪器，电磁感应原理就是基体为

铁等磁性基材，涡流感应原理就是基材为铝铜等非导电材料。

    DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。

二、FMP30 测厚仪应用范围

三、可选 探头：

    ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪常用涡流探头：FTA3.3H，订货号：604-142，测量范围：0 - 1200 μm，测量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% 

     DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪常用磁性探头：FGAB1.3，订货号：604-141，测量范围：0 - 2000 μm（45 mils）。测量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%

四、FPM30操作方式：

仪器垂直向下测量

五、精度1微米涂层测厚仪FMP30测量的测量方式：

   测量时

1、打开仪器

2、安装电池，并打开电源。

3、调整仪器与探头，并在基材上做归零。

4、在样品上测量。